下打光长脉宽组件测试仪

设备功能

适用于单晶硅、多晶硅、Topcon、HIT、HJT、IBC、薄膜电池等光伏组件的电性能测试。

设备特点

n 采用二次大电容电源及直管氙灯，光源稳定

n 采用专业设计的滤光片，光谱达到A+级（87.5%-112.5%）

n 长脉宽10-200ms单次闪光可调

n 可测试大组件2600mm×1600mm

n 下打光平台式设计，便于操作

n 光照辐度可调200-1200W/㎡，可测试不同光照辐度下的电池性能

n 专业的控制及数据采集系统，确保数据的准确性和系统稳定性

n 多项电性参数和I-V及P-V曲线；定点电压处的电流与功率显示

n 红外测温，自动温度校正